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现代电子技术
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高IP3的测试方法
高IP3的测试方法
赵利
付国映
陈文全
徐继麟
现代电子技术
2004,Vol.27
Issue(4):46-48,3.
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现代电子技术
2004,Vol.27
Issue(4)
:46-48,3.
高IP3的测试方法
Method of Measuring High IP3
赵利
1
付国映
1
陈文全
1
徐继麟
1
作者信息
1.
电子科技大学,电子工程学院,四川,成都,610054
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摘要
关键词
IP3
/
IMD3
/
信号源
/
功率合成器
/
频谱分析仪
分类
信息技术与安全科学
引用本文
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赵利,付国映,陈文全,徐继麟..高IP3的测试方法[J].现代电子技术,2004,27(4):46-48,3.
现代电子技术
ISSN:
1004-373X
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