测试技术学报2004，Vol.18Issue(z2)：47-50,4.
数字专用集成电路检测系统的设计
The Design of Digital ASIC Testing System
黄庆彩 1祖静 1裴东兴1
作者信息
- 1. 华北工学院,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051
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摘要
关键词
专用集成电路/存储测试/测试系统分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
黄庆彩,祖静,裴东兴..数字专用集成电路检测系统的设计[J].测试技术学报,2004,18(z2):47-50,4.
