材料科学与工程2002，Vol.20Issue(4)：478-481,4.
从光电子谱的峰背比及背景信号变化获得成分深度分布信息
Depth Profile from the P/B Ratio and the Dependence of the Background Signal on Binding Energy of X-ray Photoelectron
摘要
关键词
光电子谱/背景信号/深度剖析分类
数理科学引用本文复制引用
季振国,朱玲..从光电子谱的峰背比及背景信号变化获得成分深度分布信息[J].材料科学与工程,2002,20(4):478-481,4.基金项目
浙江省分析测试基金2001年度资助项目 （）
