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利用Heidenhain平面光栅作数控机床的圆检验

周勇 陈吉红 简志雄

机电工程技术2005,Vol.34Issue(10):48-51,4.
机电工程技术2005,Vol.34Issue(10):48-51,4.

利用Heidenhain平面光栅作数控机床的圆检验

Circular testing for NC machine tool by Heidenhain plane grating

周勇 1陈吉红 2简志雄3

作者信息

  • 1. 华中科技大学国家数控中心,湖北武汉430074
  • 2. 广东省机械研究所,广东广州510635
  • 折叠

摘要

关键词

圆检验/数控机床/平面光栅

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

周勇,陈吉红,简志雄..利用Heidenhain平面光栅作数控机床的圆检验[J].机电工程技术,2005,34(10):48-51,4.

基金项目

广东省经贸委项目"基于PC机的开放式体系结构的数控系统"(资助项目号:0612A2003040/5) (资助项目号:0612A2003040/5)

机电工程技术

1009-9492

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