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微电路FPGA的γ电离总剂量效应与加固技术

袁国火杨怀民徐曦董秀成

强激光与粒子束2006，Vol.18Issue(3)：487-490,4.

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强激光与粒子束2006，Vol.18Issue(3)：487-490,4.

微电路FPGA的γ电离总剂量效应与加固技术

Total ionizing dose effects and hardening techniques of microcircuit FPGA

袁国火 ¹杨怀民 ²徐曦 ²董秀成²

作者信息

1. 西华大学,电气信息学院,成都,610039
2. 中国工程物理研究院,电子工程研究所,四川,绵阳,621900
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摘要

关键词

FPGA/电离总剂量/辐照效应/加固方法

分类

信息技术与安全科学

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袁国火,杨怀民,徐曦,董秀成..微电路FPGA的γ电离总剂量效应与加固技术[J].强激光与粒子束,2006,18(3):487-490,4.

基金项目

国防科技基础研究基金资助课题（）

强激光与粒子束

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1001-4322

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