| 注册
首页|期刊导航|物理学报|SiC肖特基源漏MOSFET的阈值电压

SiC肖特基源漏MOSFET的阈值电压

汤晓燕 张义门 张玉明

物理学报2009,Vol.58Issue(1):494-497,4.
物理学报2009,Vol.58Issue(1):494-497,4.

SiC肖特基源漏MOSFET的阈值电压

The threshold voltage of SiC Schottky barrier source/drain MOSFET

汤晓燕 1张义门 1张玉明1

作者信息

  • 1. 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安电子科技大学微电子学院,西安,110071
  • 折叠

摘要

关键词

碳化硅/肖特基接触/阈值电压

分类

数理科学

引用本文复制引用

汤晓燕,张义门,张玉明..SiC肖特基源漏MOSFET的阈值电压[J].物理学报,2009,58(1):494-497,4.

基金项目

国家自然科学基金(批准号:60476007)和国家重点基础研究发展计划(973)项目(批准号:2002CB311904)资助的课题. (批准号:60476007)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文