现代电子技术Issue(4)：49-52,4.
用于MEMS器件的高性能运算放大器的IC设计与测试
IC Design and Test of a High Performance Operational Amplifier Applied in Certain MEMS Devices
程未 1冯勇建 1杨涵1
作者信息
- 1. 厦门大学,萨本栋微机电研究中心,福建,厦门,361005
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摘要
关键词
运算放大器/饱和/测试电路/微机电系统分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
程未,冯勇建,杨涵..用于MEMS器件的高性能运算放大器的IC设计与测试[J].现代电子技术,2003,(4):49-52,4.
