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GaAlAs红外发光二极管1/f噪声研究

包军林 庄奕琪 杜磊 马仲发 李伟华 万长兴

电子器件2005,Vol.28Issue(3):497-499,504,4.
电子器件2005,Vol.28Issue(3):497-499,504,4.

GaAlAs红外发光二极管1/f噪声研究

Study of 1/f Noise in GaAlAs IREDs

包军林 1庄奕琪 1杜磊 1马仲发 1李伟华 1万长兴1

作者信息

  • 1. 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071
  • 折叠

摘要

关键词

1/f噪声/红外发光二极管/涨落/氧化层陷阱

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

包军林,庄奕琪,杜磊,马仲发,李伟华,万长兴..GaAlAs红外发光二极管1/f噪声研究[J].电子器件,2005,28(3):497-499,504,4.

基金项目

国家自然科学基金资助(60276028) (60276028)

国防预研基金资助(51411040601DZ014) (51411040601DZ014)

国防科技重点实验室基金资助(51433030103DZ01) (51433030103DZ01)

电子器件

OACSCD

1005-9490

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