激光技术2008，Vol.32Issue(5)：521-522,530,3.
双折射晶体厚度干涉测量技术的研究
Novel interferometry measurement technique for birefringence crystal thickness
唐朝伟 1邵艳清 1何国田 1张鹏 2张旭详 1赵丽娟 3傅明怡1
作者信息
- 1. 重庆大学,通信工程学院,重庆,400030
- 2. 重庆师范大学,物理与信息学院,重庆,400030
- 3. 西南大学,物理学院,重庆,400715
- 折叠
摘要
关键词
测量与计量/晶体厚度测量/双折射特性/干涉技术分类
机械制造引用本文复制引用
唐朝伟,邵艳清,何国田,张鹏,张旭详,赵丽娟,傅明怡..双折射晶体厚度干涉测量技术的研究[J].激光技术,2008,32(5):521-522,530,3.
