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ECT技术对成像的影响--用低介电参数物质标定

阎润生 刘石 王海刚 马贵阳

石油化工高等学校学报2004,Vol.17Issue(1):52-54,3.
石油化工高等学校学报2004,Vol.17Issue(1):52-54,3.

ECT技术对成像的影响--用低介电参数物质标定

The Influence of Image Quality of Calibrating --With Low Permittivity Material in ECT

阎润生 1刘石 1王海刚 1马贵阳2

作者信息

  • 1. 中国科学院工程热物理研究所,北京,100080
  • 2. 辽宁石油化工大学机械工程学院,辽宁抚顺,113001
  • 折叠

摘要

关键词

电容层析成像/低介电参数材料/成像质量/标定

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

阎润生,刘石,王海刚,马贵阳..ECT技术对成像的影响--用低介电参数物质标定[J].石油化工高等学校学报,2004,17(1):52-54,3.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(750276062 ()

50076045). ()

石油化工高等学校学报

OACSCDCSTPCD

1006-396X

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