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SiGe HBT器件特征参数的数值模拟与分析

王祖军 刘书焕 唐本奇 陈伟 黄绍艳 肖志刚 张勇 刘敏波

电子器件2009,Vol.32Issue(3):534-537,4.
电子器件2009,Vol.32Issue(3):534-537,4.

SiGe HBT器件特征参数的数值模拟与分析

Numerical Simulation and Analysis of SiGe HBT's Characteristic Parameters

王祖军 1刘书焕 2唐本奇 2陈伟 2黄绍艳 2肖志刚 2张勇 2刘敏波2

作者信息

  • 1. 清华大学工程物理系,粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084
  • 2. 西北核技术研究所,西安,710024
  • 折叠

摘要

关键词

SiGe HBT/电流增益/截止频率/掺杂浓度/数值模拟

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王祖军,刘书焕,唐本奇,陈伟,黄绍艳,肖志刚,张勇,刘敏波..SiGe HBT器件特征参数的数值模拟与分析[J].电子器件,2009,32(3):534-537,4.

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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