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X射线荧光光谱分析基本参数法测定薄膜的组分与厚度的程序

袁宁儿 陶光仪 吉昂

分析测试通报Issue(2)：53-56,4.
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分析测试通报Issue(2)：53-56,4.

X射线荧光光谱分析基本参数法测定薄膜的组分与厚度的程序

袁宁儿 1陶光仪 1吉昂1

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袁宁儿,陶光仪,吉昂..X射线荧光光谱分析基本参数法测定薄膜的组分与厚度的程序[J].分析测试通报,1984,(2):53-56,4.

分析测试通报

1004-4957

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