华中科技大学学报（自然科学版）2004，Vol.32Issue(11)：54-55,58,3.
基于虚拟仪器技术的薄膜电磁参量测量
Measurement of electromagnetic parameters of thin films magnetic materials based on virtual instrumentation
摘要
关键词
薄膜/测量/复介电常数/复磁导率分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陈妮利,江建军,张秀成,何华辉..基于虚拟仪器技术的薄膜电磁参量测量[J].华中科技大学学报（自然科学版）,2004,32(11):54-55,58,3.基金项目
国家自然科学基金资助项目(50371029) （50371029）
湖北省自然科学基金资助项目(2002AB033). （2002AB033）
