测试技术学报2007，Vol.21Issue(6)：557-561,5.
FPGA测试中故障屏蔽现象的分析和研究
Research on Fault Mask in the Test of FPGA
李雪莲 1李月香 1袁涛2
作者信息
- 1. 山西大学,计算机与信息技术学院,山西,太原,030006
- 2. 清华大学,自动化系,北京,100084
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摘要
关键词
FPGA测试/测试方法/故障屏蔽分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
李雪莲,李月香,袁涛..FPGA测试中故障屏蔽现象的分析和研究[J].测试技术学报,2007,21(6):557-561,5.
