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集成电路高功率微波易损性预测评估模型

方进勇 张治强 黄文华 江伟华

强激光与粒子束2009,Vol.21Issue(4):565-568,4.
强激光与粒子束2009,Vol.21Issue(4):565-568,4.

集成电路高功率微波易损性预测评估模型

High power microwave vulnerability estimation model of integrated circuit

方进勇 1张治强 2黄文华 2江伟华2

作者信息

  • 1. 清华大学,电机系,北京,100084
  • 2. 西北核技术研究所,西安,710024
  • 折叠

摘要

关键词

高功率微波/易损性评估模型/集成电路/人工神经网络

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

方进勇,张治强,黄文华,江伟华..集成电路高功率微波易损性预测评估模型[J].强激光与粒子束,2009,21(4):565-568,4.

基金项目

国家高技术发展计划项目 ()

强激光与粒子束

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-4322

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