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混合型电路的内装式自测试(BIST)结构

Wurtz,L 戴长虹

船电技术Issue(3)：59-64,6.
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船电技术Issue(3)：59-64,6.

混合型电路的内装式自测试(BIST)结构

Wurtz,L 1戴长虹1

作者信息

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摘要

关键词

混合型电路/BIST结构/电路测试

分类

信息技术与安全科学

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Wurtz,L,戴长虹..混合型电路的内装式自测试(BIST)结构[J].船电技术,1996,(3):59-64,6.

船电技术

1003-4862

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