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扫描探针显微镜测壳聚糖材料的表面电荷分布

杨吟野 汤洪敏

材料科学与工程学报2005,Vol.23Issue(5):605-608,4.
材料科学与工程学报2005,Vol.23Issue(5):605-608,4.

扫描探针显微镜测壳聚糖材料的表面电荷分布

Measurement of Chitosan Material Surface Charge Distribution Using Scanning Probe Microscope

杨吟野 1汤洪敏2

作者信息

  • 1. 贵州民族学院物理系,贵州,贵阳,550025
  • 2. 贵州民族学院化学系,贵州,贵阳,550025
  • 折叠

摘要

关键词

SPM/EFM/表面电荷分布/表面束缚电荷密度/表面形貌/壳聚糖膜(CHI)

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨吟野,汤洪敏..扫描探针显微镜测壳聚糖材料的表面电荷分布[J].材料科学与工程学报,2005,23(5):605-608,4.

基金项目

贵州省科学技术基金资助项目(20033004)和贵州民族学院基金资助项目. (20033004)

材料科学与工程学报

OACSCD

1673-2812

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