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航天继电器寿命试验技术的探讨

余琼 任立 翟国富

低压电器Issue(21):60-62,65,4.
低压电器Issue(21):60-62,65,4.

航天继电器寿命试验技术的探讨

Discussion on Life Test Technique for Space Relay

余琼 1任立 1翟国富1

作者信息

  • 1. 哈尔滨工业大学军用电器研究所,黑龙江,哈尔滨,150001
  • 折叠

摘要

关键词

继电器/寿命试验/寿命预测/加速寿命试验

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

余琼,任立,翟国富..航天继电器寿命试验技术的探讨[J].低压电器,2008,(21):60-62,65,4.

低压电器

OA北大核心CSTPCD

2095-8188

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