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基于SOPC的简易误码率测试仪设计技术

王建国 李绍光

单片机与嵌入式系统应用Issue(2)：60-63,4.
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单片机与嵌入式系统应用Issue(2)：60-63,4.

基于SOPC的简易误码率测试仪设计技术

Bit Error Rate Tester Design Based on SOPC

王建国 1李绍光1

作者信息

  • 1. 中国海洋大学
  • 折叠

摘要

关键词

可编程片上系统/软核处理器/可编程逻辑阵列/误码率测试仪/知识产权核

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王建国,李绍光..基于SOPC的简易误码率测试仪设计技术[J].单片机与嵌入式系统应用,2009,(2):60-63,4.

单片机与嵌入式系统应用

OACSTPCD

1009-623X

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