桂林电子工业学院学报2004，Vol.24Issue(2)：60-63,4.
板级SRAM的内建自测试(BIST)设计
BIST for SRAM in PCB Level
摘要
关键词
BIST/SRAM故障模型/SRAM测试/March算法分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
张勇,谈恩民..板级SRAM的内建自测试(BIST)设计[J].桂林电子工业学院学报,2004,24(2):60-63,4.基金项目
广西科学基金项目(桂科青0135024) （桂科青0135024）
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