|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|测控技术|用于调试基于MCU设计的新技术

用于调试基于MCU设计的新技术

测控技术1999，Vol.18Issue(3)：61-63,3.
✕
测控技术1999，Vol.18Issue(3)：61-63,3.

用于调试基于MCU设计的新技术

1

作者信息

  • 1. 中国惠普公司电子仪器部,100022
  • 折叠

摘要

关键词

MCU/嵌入式设计/微控制器/I／O端口/PWM输出

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

..用于调试基于MCU设计的新技术[J].测控技术,1999,18(3):61-63,3.

测控技术

OACSCD

1000-8829

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文