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突破限制炫出精彩我国IC测试发展的基本态势

曹锐张生文

科技智囊Issue(2)：62-65,4.

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科技智囊Issue(2)：62-65,4.

突破限制炫出精彩我国IC测试发展的基本态势

曹锐 ¹张生文¹

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摘要

关键词

IC测试/突破限制/基本态势/现代生活/现代信息技术/电子信息产业/集成电路芯片/IC技术

分类

管理科学

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曹锐,张生文..突破限制炫出精彩我国IC测试发展的基本态势[J].科技智囊,2007,(2):62-65,4.

科技智囊

ISSN：1006-3676

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