电子学报2002，Vol.30Issue(5)：655-657,3.
利用场发射显微镜测算碳化钨薄膜的逸出功
Work Function of Tungsten Carbide Thin Film Calculated Using Field Emission Microscopy
摘要
关键词
场发射/场发射显微镜/碳化钨薄膜/逸出功分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
孙建平,张兆祥,侯士敏,张耿民,赵兴钰,刘惟敏,薛增泉..利用场发射显微镜测算碳化钨薄膜的逸出功[J].电子学报,2002,30(5):655-657,3.基金项目
国家自然科学基金(No.69890221,69971003) （No.69890221,69971003）
教育部科学技术研究重点项目基金(No.00005) （No.00005）
