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金属Ta缓冲层上生长微晶Si薄膜的结晶性研究

邓荣斌 王茺 陈寒娴 杨宇

人工晶体学报2008,Vol.37Issue(3):657-661,665,6.
人工晶体学报2008,Vol.37Issue(3):657-661,665,6.

金属Ta缓冲层上生长微晶Si薄膜的结晶性研究

Study on the Crystalline of Si Films Grown on Ta Buffer Layer

邓荣斌 1王茺 1陈寒娴 1杨宇1

作者信息

  • 1. 云南大学工程技术研究院,昆明,650091
  • 折叠

摘要

关键词

硅晶化/溅射功率/Ta缓冲层/晶化率

分类

数理科学

引用本文复制引用

邓荣斌,王茺,陈寒娴,杨宇..金属Ta缓冲层上生长微晶Si薄膜的结晶性研究[J].人工晶体学报,2008,37(3):657-661,665,6.

基金项目

国家自然科学基金(No.60567001) (No.60567001)

人工晶体学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-985X

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