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InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析

龚谦 梁基本 徐波 丁鼎 王占国 裘晓辉 商广义 白春礼

半导体学报Issue(8)：662,1.
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半导体学报Issue(8)：662,1.

InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析

龚谦 1梁基本 2徐波 3丁鼎 3王占国 3裘晓辉 3商广义 3白春礼3

作者信息

  • 1. 中国科学院半导体研究所
  • 2. 中国科学院化学研究所
  • 折叠

摘要

关键词

砷化铟/外延生长/测量/MBE技术

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

龚谦,梁基本,徐波,丁鼎,王占国,裘晓辉,商广义,白春礼..InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析[J].半导体学报,1999,(8):662,1.

半导体学报

OA北大核心CSCD

1674-4926

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