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CdS/CuInSe2异质结内建电压测试理论和方法的研究

杨文库 杨宇欣 邓文荣

半导体学报Issue(9)：669,1.
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半导体学报Issue(9)：669,1.

CdS/CuInSe2异质结内建电压测试理论和方法的研究

杨文库 1杨宇欣 1邓文荣1

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摘要

关键词

CdS/CuInSe2/异质结/电压/测试/能带结构/半导体

分类

数理科学

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杨文库,杨宇欣,邓文荣..CdS/CuInSe2异质结内建电压测试理论和方法的研究[J].半导体学报,1995,(9):669,1.

半导体学报

OA北大核心CSCD

1674-4926

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