电子器件2004，Vol.27Issue(4)：670-672,3.
基于噪声功率谱的IC组件内部故障定位方法研究
Study on Fault-location in IC Device Based on Noise Power-spectrum
摘要
关键词
半导体噪声/故障组件/故障定位/不解体检测分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
周求湛,杨熙春,钱志鸿,张新发..基于噪声功率谱的IC组件内部故障定位方法研究[J].电子器件,2004,27(4):670-672,3.基金项目
本课题得到了吉林省科委自然科学基金项目资助(20030313) （20030313）
吉林大学创新基金项目资助(2003CX038和2004CX12). （2003CX038和2004CX12）
