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方块电阻法原位表征Cu薄膜氧化反应动力学规律

罗宇峰 钟澄 张莉 严学俭 李劲 蒋益明

物理学报2007,Vol.56Issue(11):6722-6726,5.
物理学报2007,Vol.56Issue(11):6722-6726,5.

方块电阻法原位表征Cu薄膜氧化反应动力学规律

An in situ method for characterizing the kinetics of the oxidation process of copper thin films via sheet resistance

罗宇峰 1钟澄 1张莉 1严学俭 1李劲 1蒋益明1

作者信息

  • 1. 复旦大学材料科学系,上海,200433
  • 折叠

摘要

关键词

Cu薄膜/氧化反应/动力学/表征

分类

数理科学

引用本文复制引用

罗宇峰,钟澄,张莉,严学俭,李劲,蒋益明..方块电阻法原位表征Cu薄膜氧化反应动力学规律[J].物理学报,2007,56(11):6722-6726,5.

基金项目

国家自然科学基金(批准号:50571027)、科技部专项基金(批准号:2005DKA10400)、上海市科委(批准号:0452nm004,0552nm038)、上海应用材料研究发展基金(批准号:0524)和教育部985微纳电子科技创新平台项目"先进互连材料及概念"资助的课题. (批准号:50571027)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

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