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新型压制钡钨阴极性能的研究

张红卫 白振纲 俞世吉 丁耀根

真空电子技术Issue(3):67-69,3.
真空电子技术Issue(3):67-69,3.

新型压制钡钨阴极性能的研究

Performance Studies of a New Style Compacted Barium-Tungsten Cathode

张红卫 1白振纲 1俞世吉 1丁耀根1

作者信息

  • 1. 中国科学院电子学研究所,北京,100080
  • 折叠

摘要

关键词

压制钡钨阴极/工业CT/扫描电子显微镜

分类

数理科学

引用本文复制引用

张红卫,白振纲,俞世吉,丁耀根..新型压制钡钨阴极性能的研究[J].真空电子技术,2002,(3):67-69,3.

真空电子技术

OACSTPCD

1002-8935

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