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电子元器件的失效模式、周期与可靠性

门赫

镇江高专学报2006,Vol.19Issue(2):68-70,3.
镇江高专学报2006,Vol.19Issue(2):68-70,3.

电子元器件的失效模式、周期与可靠性

On the mode and cycle of invalidation of electronic components and their reliability

门赫1

作者信息

  • 1. 镇江市高等专科学校,电子与信息系,江苏,镇江,212003
  • 折叠

摘要

关键词

元器件/失效模式、周期/可靠性

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

门赫..电子元器件的失效模式、周期与可靠性[J].镇江高专学报,2006,19(2):68-70,3.

镇江高专学报

1008-8148

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