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基于球栅阵列引线键合封装结构的可靠性分析

范晋伟 郗艳梅 邢亚兰

现代制造工程Issue(1):69-71,3.
现代制造工程Issue(1):69-71,3.

基于球栅阵列引线键合封装结构的可靠性分析

Research the reliability based on the structure of wire bonding packaging of ball grid array

范晋伟 1郗艳梅 1邢亚兰1

作者信息

  • 1. 北京工业大学机电学院,北京,100022
  • 折叠

摘要

关键词

引线键合/热应力/有限元

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

范晋伟,郗艳梅,邢亚兰..基于球栅阵列引线键合封装结构的可靠性分析[J].现代制造工程,2008,(1):69-71,3.

现代制造工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1671-3133

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