玉米抗纹枯病QTL定位

赵茂俊张志明高世斌李晚忱荣廷昭潘光堂

作物学报2006，Vol.32Issue(5)：698-702,5.

Identification of Quantitative Trait Loci Controlling Resistance to Banded Leaf-Sheath Blight in Maize

赵茂俊 ¹张志明 ²高世斌 ¹李晚忱 ²荣廷昭 ¹潘光堂²

作者信息

玉米/纹枯病/SSR标记/数量性状位点

农业科技

赵茂俊,张志明,高世斌,李晚忱,荣廷昭,潘光堂..玉米抗纹枯病QTL定位[J].作物学报,2006,32(5):698-702,5.

亚洲玉米生物技术协作网、引进国际先进农业科学技术计划(948计划)(2003-Q03)和长江学者及创新团队发展计划(IRT0458)项目资助. （948计划）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：0496-3490

访问量2

下载量0

段落导航