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用飞行时间法研究Si溅射离子簇质谱的结构效应
用飞行时间法研究Si溅射离子簇质谱的结构效应
刘淑荣
江伟林
刘家瑞
林荫浓
物理学报
Issue(5)：703-708,6.
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物理学报
Issue(5)
：703-708,6.
用飞行时间法研究Si溅射离子簇质谱的结构效应
刘淑荣
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江伟林
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刘家瑞
1
林荫浓
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关键词
飞行时间法
/
质谱
/
离子簇
/
Si
分类
数理科学
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刘淑荣,江伟林,刘家瑞,林荫浓..用飞行时间法研究Si溅射离子簇质谱的结构效应[J].物理学报,1991,(5):703-708,6.
物理学报
OA
CSCD
ISSN：
1000-3290
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