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基于Nios红外图像实时非均匀性校正研究

孔令彬 王川 许鸿文 戚建汉

华中科技大学学报（自然科学版）2005，Vol.33Issue(12)：70-72,3.
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华中科技大学学报（自然科学版）2005，Vol.33Issue(12)：70-72,3.

基于Nios红外图像实时非均匀性校正研究

Correction of infrared image with real-time and nonuniformity based on the nios technique

孔令彬 1王川 2许鸿文 1戚建汉1

作者信息

  • 1. 中国地质大学,机械与电子工程学院,湖北,武汉,430074
  • 2. 华中电网有限公司,通信处,湖北,武汉,430077
  • 折叠

摘要

关键词

红外焦平面阵列/非均匀性校正/微测辐射热计/现场可编程门阵列/可编程单芯片系统

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

孔令彬,王川,许鸿文,戚建汉..基于Nios红外图像实时非均匀性校正研究[J].华中科技大学学报（自然科学版）,2005,33(12):70-72,3.

基金项目

湖北省自然科学基金资助项目 (2004BA034). （2004BA034）

华中科技大学学报（自然科学版）

OA北大核心CSCD

1671-4512

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