现代电子技术2004，Vol.27Issue(9)：70-73,4.
CMOS集成电路的ESD模型和测试方法探讨
Study of ESD Model and Test Method in CMOS IC
徐骏华 1向宏莉 1令文生1
作者信息
- 1. 西安微电子技术研究所,陕西,西安,710054
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摘要
关键词
静电放电/ESD模型/电流/CMOS分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
徐骏华,向宏莉,令文生..CMOS集成电路的ESD模型和测试方法探讨[J].现代电子技术,2004,27(9):70-73,4.
