电感耦合等离子体发射光谱法测定工业硅中微量元素OA北大核心CSCDCSTPCD
Simultaneous Determination of Micro-amount of Elements in Industrial Silicon by Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometry
采用电感耦合等离子体发射光谱法同时测定工业硅中可能存在的铝、铁、钙、镁、钾、钠、磷、钡、铍、镉、铈、钴、铬、铜、锂、锰、钼、镍、铅、钛、钒、钨、锌、砷、锶、铼、锑、硼28个微量元素,并以差减法计算基体硅的含量,实现了对试样基体及杂质元素含量的同时测定.方法对28个微量元素的回收率为94.0%～103.4%,精密度(RSD,n=10)低于3.0%.方法经国家实物标准物质验证,测定值与标准值基本相符.
沙艳梅
河南省南阳地质测试研究中心,河南,南阳,473000
化学化工
多元光谱拟合电感耦合等离子体发射光谱法微量元素工业硅
《岩矿测试》 2009 (1)
72-74,3
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