现代电子技术2009，Vol.32Issue(17)：72-74,3.
大电流温升试验中铜排长度对试验误差的影响
Error Produced by Different Bus Length in Temperature Rise of Large Current Experiment
王博 1王永祥 2吕宏锐1
作者信息
- 1. 海军驻宝鸡地区军事代表室,陕西,宝鸡,721006
- 2. 陕西国防科技工业技术开发中心,陕西,西安,710061
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摘要
关键词
大电流电器/温升试验/铜排/配电板分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王博,王永祥,吕宏锐..大电流温升试验中铜排长度对试验误差的影响[J].现代电子技术,2009,32(17):72-74,3.
