原子与分子物理学报2009，Vol.26Issue(4)：733-736,4.DOI:103969/j.issn.1000-0364.2009.04.030
DAC垫片孔侧壁绝缘程度对电导率测量结果的影响
The gasket conducting effect in diamond anvil cell during electrical measurement
摘要
关键词
金刚石对顶砧/高压/电阻率分类
数理科学引用本文复制引用
彭刚,高春晓,吴宝嘉,刘才龙,韩永昊,刘鲍,胡廷静,王月,崔晓岩,任万斌..DAC垫片孔侧壁绝缘程度对电导率测量结果的影响[J].原子与分子物理学报,2009,26(4):733-736,4.基金项目
国家自然科学基金(10874053,50532020) （10874053,50532020）
科技部973课题(2005CB724404) （2005CB724404）
教育部创新团队(IRT0625) （IRT0625）
