计算机工程与科学2002，Vol.24Issue(2)：73-76,4.
基于边界扫描的电路板测试性优化设计
Optimal Design for the Testability of Circuit Boards Based on Boundary Scan
刘冠军 1温熙森 1易晓山1
作者信息
- 1. 国防科技大学机电工程与自动化学院,湖南,长沙,410073
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摘要
关键词
边界扫描/测试性优化设计/电路板分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
刘冠军,温熙森,易晓山..基于边界扫描的电路板测试性优化设计[J].计算机工程与科学,2002,24(2):73-76,4.
