强激光与粒子束2009，Vol.21Issue(5)：742-744,3.
CMOS电路瞬态辐照脉冲宽度效应的实验研究
Transient radiation effects of CMOS circuits with different pulse widths
摘要
关键词
CMOS电路/辐照效应/闩锁阈值/翻转阈值/脉冲宽度/剂量率分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王桂珍,白小燕,郭晓强,杨善潮,李瑞宾,林东生,龚建成..CMOS电路瞬态辐照脉冲宽度效应的实验研究[J].强激光与粒子束,2009,21(5):742-744,3.基金项目
国防科技基础研究基金资助课题 （）
