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半导体学报
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GaAs MESFET正向肖特基结电压温度特性的研究
GaAs MESFET正向肖特基结电压温度特性的研究
冯士维
吕长志
丁广钰
半导体学报
Issue(11):747,1.
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半导体学报
Issue(11)
:747,1.
GaAs MESFET正向肖特基结电压温度特性的研究
冯士维
1
吕长志
1
丁广钰
1
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摘要
关键词
砷化镓
/
MESFET
/
肖特基结
/
电压
/
温度特性
分类
信息技术与安全科学
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冯士维,吕长志,丁广钰..GaAs MESFET正向肖特基结电压温度特性的研究[J].半导体学报,1994,(11):747,1.
半导体学报
OA
北大核心
CSCD
ISSN:
1674-4926
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