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500 kV变压器套管介损偏大的原因分析

张会平 涂明涛 王晋昌 赵静 叶宽

高电压技术2000,Vol.26Issue(5):74-75,2.
高电压技术2000,Vol.26Issue(5):74-75,2.

500 kV变压器套管介损偏大的原因分析

Analyse of Increase of tanδ of Three Transformer Bushings

张会平 1涂明涛 1王晋昌 1赵静 1叶宽1

作者信息

  • 1. 北京供电局修试处,北京,100075
  • 折叠

摘要

关键词

变压器套管/介质损耗因数

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张会平,涂明涛,王晋昌,赵静,叶宽..500 kV变压器套管介损偏大的原因分析[J].高电压技术,2000,26(5):74-75,2.

高电压技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1003-6520

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