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半导体学报
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单晶晶胞参数的X射线双晶衍射测定方法
单晶晶胞参数的X射线双晶衍射测定方法
李润身
朱南昌
半导体学报
Issue(10):759,1.
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半导体学报
Issue(10)
:759,1.
单晶晶胞参数的X射线双晶衍射测定方法
李润身
1
朱南昌
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摘要
关键词
晶胞参数
/
测量
/
X射线衍射
/
单晶
分类
信息技术与安全科学
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李润身,朱南昌..单晶晶胞参数的X射线双晶衍射测定方法[J].半导体学报,1990,(10):759,1.
半导体学报
OA
CSCD
ISSN:
1674-4926
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