电子学报2000，Vol.28Issue(8)：76-78,3.
功能成品率估算的缺陷特征参数提取方法
The Method of Defect Model Parameter Extraction for IC Functional Yield Estimation
摘要
关键词
集成电路/功能成品率/参数提取分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
郝跃,马佩军,张卫东,赵天绪..功能成品率估算的缺陷特征参数提取方法[J].电子学报,2000,28(8):76-78,3.基金项目
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