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光线追迹法在双折射滤光器误差分析中的应用

玄伟佳 王东光 邓元勇 张志勇 孙英姿

光学精密工程2008,Vol.16Issue(5):771-777,7.
光学精密工程2008,Vol.16Issue(5):771-777,7.

光线追迹法在双折射滤光器误差分析中的应用

Application of ray tracing method to birefringent filter error analysis

玄伟佳 1王东光 2邓元勇 1张志勇 1孙英姿1

作者信息

  • 1. 中国科学院,国家天文台,怀柔太阳观测站,北京,100012
  • 2. 中国科学院,研究生院,北京,100049
  • 折叠

摘要

关键词

太阳观测/偏振光学/透过带形状/光线追迹法/双折射滤光器

分类

天文与地球科学

引用本文复制引用

玄伟佳,王东光,邓元勇,张志勇,孙英姿..光线追迹法在双折射滤光器误差分析中的应用[J].光学精密工程,2008,16(5):771-777,7.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(No.10778723,No.10473016) (No.10778723,No.10473016)

光学精密工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-924X

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