南京航空航天大学学报2004，Vol.36Issue(6)：774-777,4.
H2对SrBi2Ta2O9薄膜表面形貌和铁电性能的影响
Effects of Annealing in H2-Containing Ambient on Surface Morphologies and Ferroelectricities of SrBi2Ta2O9 Ferroelectric Thin Films
王东生 1于涛 2吴迪 2胡安2
作者信息
- 1. 南京航空航天大学理学院,南京,210016
- 2. 南京大学固体微结构物理国家重点实验室,南京,210093
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摘要
关键词
SBT薄膜/混合气氛/铁电性能分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王东生,于涛,吴迪,胡安..H2对SrBi2Ta2O9薄膜表面形貌和铁电性能的影响[J].南京航空航天大学学报,2004,36(6):774-777,4.
