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退火对CdZnTe晶体质量的影响

朱基千 褚君浩 张小平 李标 程继健

半导体学报Issue(10)：782,1.
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半导体学报Issue(10)：782,1.

退火对CdZnTe晶体质量的影响

朱基千 1褚君浩 2张小平 3李标 3程继健3

作者信息

  • 1. 中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家实验室
  • 2. 华东理工大学无机材料系
  • 折叠

摘要

关键词

化含物半导体/晶体质量/退火

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

朱基千,褚君浩,张小平,李标,程继健..退火对CdZnTe晶体质量的影响[J].半导体学报,1997,(10):782,1.

半导体学报

OA北大核心CSCD

1674-4926

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