超低副瓣阵列天线不同扫描角度幅相误差影响的研究OA北大核心CSTPCD
Research on the effect of amplitude-phase errors on the ultra-low side-lobe arrays at different scanning angle
天线阵各单元间相互耦合,使超低副瓣阵列天线的性能发生改变.传统的幅相误差分析,很少考虑互耦影响.这里在考虑互耦影响的条件下,讨论幅度误差和相位误差对超低副瓣阵列天线性能的影响.利用矩量法对天线阵列进行互耦分析,并计算了天线阵列各单元的本征激励方向图.以八单元Chebyshev等间距直线阵为例,采用本征激励分析方法进行了数值统计分析,在不同的扫描角度下,模拟得到了幅度误差、相位误差对超低副瓣阵列天线副瓣最高电平影响的关系曲线.结果表明,随着扫描角度…查看全部>>
崔金辉;杨莘元
哈尔滨工程大学,信息与通信工程学院,黑龙江,哈尔滨,150001哈尔滨工程大学,信息与通信工程学院,黑龙江,哈尔滨,150001
信息技术与安全科学
矩量法本征激励法互耦超低旁瓣阵列天线
《哈尔滨工程大学学报》 2004 (6)
786-788,3
国防科学技术工业委员会基础研究基金资助项目(40106030504).
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