光学精密工程2009，Vol.17Issue(4)：787-793,7.
SRAM、ROM的总剂量辐射效应及损伤分析
Total dose effects and radiation damage reasons of VLSI SRAM and ROM storages
摘要
关键词
SRAM/ROM/静态功耗电流/动态功耗电流/总剂量辐射效应分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
李豫东,任建岳,金龙旭,张立国..SRAM、ROM的总剂量辐射效应及损伤分析[J].光学精密工程,2009,17(4):787-793,7.基金项目
国家863高技术研究发展计划资助项目(No.863-2-5-1-13B) （No.863-2-5-1-13B）
