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半导体学报
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双离子注入短沟道MOS FET的阈值电压解析模型
双离子注入短沟道MOS FET的阈值电压解析模型
汤庭鳌
陈登元
半导体学报
Issue(11):812,1.
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半导体学报
Issue(11)
:812,1.
双离子注入短沟道MOS FET的阈值电压解析模型
汤庭鳌
1
陈登元
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摘要
关键词
泊松方程
/
离子注入
/
MOSFET
/
解析解
分类
信息技术与安全科学
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汤庭鳌,陈登元..双离子注入短沟道MOS FET的阈值电压解析模型[J].半导体学报,1989,(11):812,1.
半导体学报
OA
CSCD
ISSN:
1674-4926
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